SJ 20512-1995 微波大损耗固体材料复介电常数和复磁导率测试方法
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ID： |
C6A6E2A966F440F28EAFDC2DC2C20703 |
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文件大小(MB)： |
0.45 |
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7 |
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日期： |
2024-7-28 |
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中华人民共和国电子行业军用标准,FL 5971 SJ 20512-1995,微波大损耗固体材料复介电,常数和复磁导率测试方法,Test methods for permittivity and,permeability of microwave high,loss solid materials,1995-05-25 发布1995-12-01 实施,中华人民共和国电子工业部批准,中华人民共和国电子行业军用标准,微波大损耗固体材料复介电,常数和复磁导率测试方法,SJ 20512-1995,Test methods for permittivity and permeability of,microwave high loss solid materials,1范,1.1主题内容,本标准规定了采用传输/反射原理的微波大损耗固体材料复介电常数和复磁导率的测试,方法,1.2适用范围,本标准适用于均匀、各向同性的微波大损耗固体材料复介电常数和复磁导率的测量,频率范围:2.40GHz,材料测试范围: � r = 2~100** r = 0.6~10,r tan^c <1.2, tan^ <1.5,tan^cu >0# lo,2引用文件,GB 11450.2-89 空心金属波导 第二部分:普通矩形波导有关规范,3定义,3.I符号、代号,ピパ相对复介电常数,シ=�,ルl:相对复磁导率,〃r =小ー加「;,$1、メ1、，2、522:双口网络散射参数;,d.ム试样厚度:,e.,f.,f测试频率;,a:矩形波导宽边尺寸;,6:矩形波导窄边尺寸,ス0:自由空间波长;,ん:空波导截止波长;,W川:电磁介质中波导波长;,中华人民共和国电子工业部1995.05丒25发布1995-12-01 实施,一 ］一,SJ 20512—1995,:真空中光速;,L Z。:传输线特征阻抗;,m丒F:试样的复反射系统;,n. T:试样的传输系统;,〇. 试样电损耗角;,p.シ:试样磁'损耗角;,q.嶋:试样电磁损耗角tan”n回斗,其中:（却ん）’ー却ス）”,/ 、が メ" I ”ノ,（�メケ） �プ"r ! �ドル尸;,△ I SU丨：S”模值的最大测量误差;,△%i：Su相位最大测量误差;,△ I S211 ： S21模值的最大测量误差;,u. △621621相位的最大测量误差;,V. △4:试样厚度d的最大测量误差;,丒△/：频率测量误差;,X.,y. △ん：ん的测量误差;,z.ハ：填充试样的衰减量,4 一般要求,4.1试验的标准大气条件,温度:15.35匕J,相对湿度:20% -80% ;,气 压:试验场所的气压,5详细要求,5.1 方法原理概要,将其中填充有被测试样材料的测试夹具接入测试系统,则测试夹具可以等效成为ー个双,ロ网络,由网络理论可以推导岀其中试样材料的电磁参数ルん与该双口网络的S参数之间的,关系式。于是通过测出被测网络的［S］矩阵各元素可以求得试样材料的￡内,（等效过程如图,1,图2所示）,2,SJ 20512—1995,图1测试夹具等效为一个双口网络双口网络S参数示意图,5.2 试验仪器、设备及其要求,5.2.1 扫频信号源,当频率为2.26.5GHz时,输出功率大于10mW;频率准确度优于1X1O-4X/,当频率为26.5.40GHz时,输岀功率大于5mW;频率准确度优于1 x 10-5 x /,5.2.2 网络分析仪,S参数测试不确定度(2.40GHz)：,△ Snl40.02/Sul;,△*n<27lsn;,△ S21K0.15dB,△ S21K0.05dB4-0.02xA,△ S21K0.05dB + 0.04x A,△もW,其中:A = 2Qlg I s21 L,(A&lOdB);,(10
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